HIL测试(硬件在环测试)是一种嵌入式系统测试方法，通过将实际硬件连接到仿真环境中，对嵌入式系统进行全面测试验证。这种测试方法广泛应用于汽车电子、航空航天、工业控制等领域，能够高效发现系统设计缺陷，提高产品质量和可靠性。
