Scan Chain 第1页

Scan Chain是集成电路测试中的一种关键技术，通过在芯片设计中插入可测试性结构，实现对内部逻辑节点的可控性和可观测性，大幅提高测试效率和覆盖率。

可测性设计工程师（DFT）负责在集成电路设计阶段嵌入测试机制，通过Scan Chain/BIST等技术确保芯片制造缺陷可检测。需掌握数字电路设计、EDA工具链及测试方法学，是连接IC设计与量产测试的关键角色。行业平均薪资30-60万，高级专家可达百万级别，是半导体行业的核心岗位。